半導體的PCT測驗意圖及除氣泡設備

PCT實驗一般稱為壓力（lì）鍋蒸煮實驗或是飽滿蒸汽實驗 ,主要是將待（dài）測品置於（yú）苛刻之溫度、飽滿（mǎn）濕度(100%R.H.)[飽滿（mǎn）水蒸 司]及壓力環境下測

試，測驗代測品耐高濕能力,針對（duì）印刷線路板(PCB&FPC) ,用來進行資料（liào）吸濕率（lǜ）實驗、高壓蒸煮實驗. 等實驗目的（de）,如果待（dài）測品是半導體的話,則用來（lái）測驗半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置苛刻的溫濕度（dù）以及壓力環境下測驗,如（rú）果半導（dǎo）體封裝的不好,濕氣會沿者膠（jiāo）體（tǐ）或膠體與（yǔ）導線架之介麵進入封裝（zhuāng）體（tǐ）之中,常見（jiàn）的故裝原（yuán）因: 爆米花（huā）效應、動金屬（shǔ）化區域腐蝕形成之斷路、封裝（zhuāng）體弓|腳間因汙染形成（chéng）之短路.等（děng）相關問題。

PCT對PCB的毛病形式:起泡(lister)、斷裂(Crack)、 止焊（hàn）漆（qī）剝離(SR de-lamination)。

半（bàn）導體的PCT測驗: PCT最主要是測驗（yàn）半導體封裝之抗濕氣能力,待（dài）測品被放置苛刻的溫濕度（dù）以及壓力環境下測驗,如果半導體封裝（zhuāng）的不好，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之介麵進入封裝體之中,常見的故（gù）裝原因:爆米花效應、動（dòng）金屬化區域腐蝕形成（chéng）之斷（duàn）路、封裝體弓|腳間因汙染形成之短路.等相關問題。

PCT對IC半導體的可（kě）靠度點評項目: Die Attach Epoxy (or Film)、導線（xiàn）架資（zī）料、封膠樹脂腐蝕（shí）失效與IC :腐蝕失效(水汽、偏（piān）壓、雜（zá）質離（lí）子（zǐ）)會形成IC的鋁線發生電化學腐蝕,而導致鋁（lǚ）線開路以及遷移生長。

塑封半導體因濕氣腐蝕而引|起的失效現象:

由於鋁和鋁合金價格便宜,加工工藝簡略,因而通常被（bèi）運用為積（jī）體電路的金屬線。從進行積體電路塑封裂（liè）程（chéng）開始,水氣便會經過環氧（yǎng）樹脂進入（rù）弓|起鋁金屬導線產生腐蝕進（jìn）而產生開路現象,成焉品質管理（lǐ）最為頭痛的問題。盡管（guǎn）經過各種改善包括探用（yòng）不同環氧樹（shù）脂資料、改進塑封技能（néng）和進（jìn）步非活性塑封膜為進步（bù）產品（pǐn）質量進行了各種（zhǒng）努（nǔ）力,可是隨著日新月異的半導體電（diàn）子器件小型化（huà）開展（zhǎn），塑（sù）封鋁金屬（shǔ）導線腐蝕問題至今（jīn）仍（réng）然是電子職業非常重要的技能課題。

鋁線中產生腐蝕進程:

①水氣滲透入塑封殼內- +濕氣滲（shèn）透到樹（shù）脂和導線空地之中

②水氣滲透到晶片表麵引起鋁化學（xué）反應

加快鋁腐蝕（shí）的要素:

①樹脂資料與晶片結構（gòu）介麵之間銜接不夠（gòu）好（hǎo）(由（yóu）於各種資料之間存在膨脹率的差異)

②封裝時,封裝資料摻有雜（zá）質或者雜質離子的汙染(由於雜質離子的呈現)

③非（fēi）活性塑封膜中所運用的高濃（nóng）度磷

④非活性塑（sù）封膜中存在的缺點

水汽進入IC封裝的途徑:

1.IC晶片和弓|線結構及SMT時用的銀漿所吸收（shōu）的水

2.塑封料中吸收的水分

3.塑封工作間濕（shī）度較高時對（duì）器件或許形（xíng）成影響;

4.包封後的器件,水（shuǐ）汽透過塑（sù）封料以及經過塑封料和引線結（jié）構之空地滲透進去,由於塑膠與引線結構之（zhī）間隻有機械性的結合,所以在引線結構與塑膠之間不免呈現小（xiǎo）的空地。

備注:隻要封膠之間空地大於3.4*10^-10m以上（shàng）,水分（fèn）子就可穿越封膠的防護

備注:氣（qì）密封裝對於水汽不敏感,一般不探用（yòng）加快溫濕度實驗來點評（píng）其可靠性 ,而是（shì）測定其氣密性、內部水汽含量等。

針對Die Attach Epoxy (or Film)的氣泡消除, ELT壓力除泡烤箱可以很有用的履行，且己在（zài）業界行之多年。ELT智能化全自（zì）動除（chú）泡機,采用真空

+壓力+高溫物理除泡工藝,無（wú）塵潔（jié）淨真空環境,含（hán）氧量自（zì）動控製,快（kuài）速升溫,快速降溫（wēn）,揮發氣體過濾更環保, 10寸工業型電腦,烘烤（kǎo）廢氣內循（xún）

環收集,氣冷式安全設計,高（gāo）潔淨選配,真空/壓力/溫度（dù）&時刻彈性式設定。廣泛應用於灌膠封裝,印刷,壓膜等半導體（tǐ）電子（zǐ）新（xīn）能源電（diàn）池（chí）等許多領

域。